ニュースリリース

DATE:2010/01/05

エレクトロテスト・ジャパンに出展します。

株式会社ジーニックは来る2010年1月20日[水]~22日[金]、東京ビッグサイトにおいてインターネプコン・ジャパンと共同開催されます「第27回エレクトロテスト・ジャパン」に出展することとなりましたので、ご案内いたします。

展示会では、下記製品を発表、展示いたします。

<新開発>
「リアルタイム画質改善IP 評価装置」
白飛び黒つぶれ画像をリアルタイムで明瞭化・鮮明化するIPコアのデモ展示
-*立命館大学理工学部 山内寛紀教授研究室との共同開発*-

<新製品>
「汎用拡張I/O IC 『EXPERTシリーズ』」
映像機器やFA機器に最適な機能を1つにまとめたマイコン周辺拡張IC


展示会名:第27回エレクトロテスト・ジャパン
    (第39回インターネプコン・ジャパン共同開催)

会  期:2010年1月20日[水]~22日[金]
会場時間:20、21日は10:00~18:00
       22日は10:00~17:00

会  場:東京有明 東京ビッグサイト

出展小間:東47-9 東4ホール出入口が便利です。
ブース

ぜひこの機会に弊社ブースにお立ち寄りいただき、新製品をご覧ください。

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